IEC 60749-5:2023 RLV
半导体器件机械和气候测试方法第5部分:稳态温度湿度偏置寿命测试

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test


 

 

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标准号
IEC 60749-5:2023 RLV
发布
2023年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60749-5:2023 RLV
 
 

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