IEC 60749-7:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部水分含量的测量
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
- 标准号
- IEC 60749-7:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-7:2011
- 被代替标准
- IEC 47/2087/FDIS:2011 IEC 60749-7:2002 IEC 60749-7 Corrigendum 1:2003
- 适用范围
- 本国际标准规定了金属或陶瓷密封装置内大气中水蒸气和其他气体含量的测试和测量。该测试用于衡量密封过程的质量，并提供有关包装内空气的长期化学稳定性的信息。它适用于以这种方式密封的半导体器件，但通常仅用于高可靠性应用，例如军事或航空航天。这个测试是破坏性的。
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