BS EN 62149-8:2014
纤维光学有源元件和器件. 性能标准. 晶种反射半导体光学放大器设备

Fibre optic active components and devices. Performance standards. Seeded reflective semiconductor optical amplifier devices



BS EN 62149-8:2014相似标准


推荐

废止《光学纤维面板测试方法》等265项国家标准

国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会  2023-12-28废止国家标准部分名单序号标准标准名称复审结论标准废止过渡期1GB/T 11447-1989光学纤维面板测试方法废止公告后3个月废止2GB/T 18311.31-2007纤维光学互连器件无源器件 基本试验测量程序  第3-31部分:检查测量 纤维光学光源耦合功率比测量废止公告后3个月废止3GB/T 18310.3-2001纤维光学互连器件无源器件...

助力圆生产工艺改进,海洋光学参加2022中国半导体设备年会

圆膜厚测量系统配置QE Pro是一高灵敏度性能出色的光谱仪,适合低光度应用。QE Pro薄型背照式CCD探测器具有较高的量子效率,其稳健的设计使其具有很高的信噪比性能稳定性。可通过选择内部快门,优化对暗噪声的测量。解决问题是海洋光学的使命。海洋光学创始人Mike Morris说,“我们是问题解决者;没有问题需要解决,就没有海洋光学。”...

应用推荐|SM200及其系列膜厚仪在薄膜检测的应用

振行业采用我们的仪器进行的膜厚进行测试,得到了良好结果。(2)膜厚仪在二氧化硅测量的应用二氧化硅薄膜以其优异的性能半导体、微波、光电子、光学器件以及薄膜传感器等领域获得了广泛的应用,因此非常有必要对其膜厚进行监测控制。测试结果(3)膜厚仪在派瑞林涂层上的应用派瑞林涂层广泛的应用于PCB板及相关的电子器件涂层。其有优异的电绝缘性防护性,是当代最有效的防潮、防霉、防腐、防盐雾涂层材料。...

段曦东段镶锋二维电子器件最新Nature子刊

工业化的应用对二维半导体的大规模制备及其性能也有了更高的要求,传统的光刻和金属化工艺也可以实现二维晶体管(FET)的圆集成,但是设备的差异性所引起的性能的差异性,有可能导致电子器件性能的数量级的降低,迫使人们寻求新的解决方法。...


BS EN 62149-8:2014 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号