国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 2023-12-28废止国家标准部分名单序号标准号标准名称复审结论标准废止过渡期1GB/T 11447-1989光学纤维面板测试方法废止公告后3个月废止2GB/T 18311.31-2007纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-31部分:检查和测量 纤维光学光源耦合功率比测量废止公告后3个月废止3GB/T 18310.3-2001纤维光学互连器件和无源器件...
晶圆膜厚测量系统配置QE Pro是一种高灵敏度性能出色的光谱仪,适合低光度应用。QE Pro薄型背照式CCD探测器具有较高的量子效率,其稳健的设计使其具有很高的信噪比性能和稳定性。可通过选择内部快门,优化对暗噪声的测量。解决问题是海洋光学的使命。海洋光学创始人Mike Morris说,“我们是问题解决者;没有问题需要解决,就没有海洋光学。”...
某晶振行业采用我们的仪器进行的膜厚进行测试,得到了良好结果。(2)膜厚仪在二氧化硅测量的应用二氧化硅薄膜以其优异的性能在半导体、微波、光电子、光学器件以及薄膜传感器等领域获得了广泛的应用,因此非常有必要对其膜厚进行监测和控制。测试结果(3)膜厚仪在派瑞林涂层上的应用派瑞林涂层广泛的应用于PCB板及相关的电子器件涂层。其有优异的电绝缘性和防护性,是当代最有效的防潮、防霉、防腐、防盐雾涂层材料。...
工业化的应用对二维半导体的大规模制备及其性能也有了更高的要求,传统的光刻和金属化工艺也可以实现二维晶体管(FET)的晶圆集成,但是设备的差异性所引起的性能的差异性,有可能导致电子器件性能的数量级的降低,迫使人们寻求新的解决方法。...
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