EN 60444-8:2017
石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 EN 60444-8:2017 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
EN 60444-8:2017
发布
2017年
发布单位
欧洲电工标准化委员会
当前最新
EN 60444-8:2017
 
 
IEC 60444-8:2016(E) describes test fixtures suitable for leadless surface mounted quartz crystal units in enclosures as defined in IEC 61837 (all parts). These fixtures allow the m...

EN 60444-8:2017相似标准


推荐





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号