UNE-EN IEC 60749-5:2024
半导体器件 机械和气候测试方法 第5部分：稳态温度湿度偏置寿命测试（由西班牙标准化协会于 2024 年 3 月批准 ）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2024.)

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 UNE-EN IEC 60749-5:2024 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号

UNE-EN IEC 60749-5:2024

发布

2024年

发布单位

ES-UNE

当前最新

UNE-EN IEC 60749-5:2024

 

 

UNE-EN IEC 60749-5:2024相似标准

推荐