NS-EN ISO 9220:1994
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 扫描电子显微镜法（ISO 9220:1988）

Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method (ISO 9220:1988)

标准号

NS-EN ISO 9220:1994

发布

1995年

发布单位

SCC

当前最新

NS-EN ISO 9220:1994

 

 

适用范围

ADOPTED_FROM:EN ISO 9220:1994 规定了一种通过扫描电子显微镜检查横截面来测量金属涂层局部厚度的方法。该方法具有破坏性，不确定度小于 10% 或 0.1 /um（以较大者为准）。该方法可用于厚度达几毫米的涂层，但通常使用光显微镜更为实用（ISO 1463）。附件 a 给出了横截面的制备方法。

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