ASTM E3220-20
石墨烯薄片特性的标准指南

Standard Guide for Characterization of Graphene Flakes


标准号
ASTM E3220-20
发布
2020年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E3220-20
 
 
引用标准
ASTM E2530
适用范围
1.1 本标准将为石墨烯及相关产品的横向薄片尺寸、平均薄片厚度、D带和G带的拉曼强度比以及碳/氧比的评估测量方法提供指导。这里包括的技术包括原子力显微镜、拉曼光谱和 X 射线光电子能谱。每种类型的测量都会给出示例。
1.2 本指南旨在为制造商、生产商、分析师和其他对石墨烯及相关产品(例如氧化石墨烯和还原氧化石墨烯)感兴趣的人提供示例。本标准指南无意全面概述所有可能的表征方法。
1.3 本指南不包括所有可能的材料和应用的所有样品制备程序。用户必须验证其特定应用程序的适用性。
1.4 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践,并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒(TBT)委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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