TIA/EIA-455-8-2000

FOTP-8 Measurement of Splice or Connector Loss and Reflectance Using an OTDR

TIA/EIA-455-8-2000 发布历史

IntentThis procedure describes the use of an optical time-domain reflectometer (OTDR) to indirectly measure the loss and reflectance of a splice or connector.

TIA/EIA-455-8-2000由TIA - Telecommunications Industry Association 发布于 2000-04-25，并于 2009-09-30 实施。

TIA/EIA-455-8-2000的历代版本如下：

• 2000年04月25日 TIA/EIA-455-8-2000

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标准号

TIA/EIA-455-8-2000

发布日期

2000年04月25日

实施日期

2009年09月30日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

TIA - Telecommunications Industry Association

引用标准

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适用范围

IntentThis procedure describes the use of an optical time-domain reflectometer (OTDR) to indirectly measure the loss and reflectance of a splice or connector.