NF EN 60749-44:2016

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44 : méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs

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标准号: NF EN 60749-44:2016
发布: 2016年
发布单位: 法国标准化协会
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