NF EN 60749-44:2016
半导体器件机械和气候测试方法第44部分：半导体器件中子束单粒子效应（SEE）测试方法

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 44 : méthode d'essai des effets d'un événement isolé (SEE) irradié par un faisceau de neutrons pour des dispositifs à semiconducteurs

NF EN 60749-44:2016 发布历史

NF EN 60749-44:2016由法国标准化协会 FR-AFNOR 发布于 2016-12-23。

NF EN 60749-44:2016 半导体器件机械和气候测试方法第44部分：半导体器件中子束单粒子效应（SEE）测试方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 NF EN 60749-44:2016 。

NF EN 60749-44:2016的历代版本如下：

• 2016年 NF EN 60749-44:2016 半导体器件机械和气候测试方法第44部分：半导体器件中子束单粒子效应（SEE）测试方法

标准号

NF EN 60749-44:2016

发布

2016年

发布单位

法国标准化协会

当前最新

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