纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
找不到引用KS C IEC TS 62607-6-1-2022 纳米制造.关键控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.体积电阻率:四探针法 的标准
IEC/TC113已经接受该项目提交的《IEC/TS 62607-6-8:纳米制造-主要控制特性——第6-8部分:石墨烯-四点探针法测量薄片电阻》的提案。IEC/TC 113在渥太华(2018年5月)和釜山(2018年10月)举行的会议上,更新了经过验证的测量协议起草过程的进展。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved 京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号