BS EN ISO 19749:2023
纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布

Nanotechnologies. Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy


BS EN ISO 19749:2023 中,可能用到以下仪器

 

德国徕卡 Wizard for Automatic 3D Analysis LAS X 3D Analysis

德国徕卡 Wizard for Automatic 3D Analysis LAS X 3D Analysis

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 True 3D Real-time Rendering LAS X 3D Visualization

德国徕卡 True 3D Real-time Rendering LAS X 3D Visualization

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

SEM3200国仪量子扫描电镜 应用于纳米材料

SEM3200国仪量子扫描电镜 应用于纳米材料

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

SEM5000扫描电镜国仪量子 应用于纳米材料

SEM5000扫描电镜国仪量子 应用于纳米材料

国仪量子(合肥)技术有限公司

 

BS EN ISO 19749:2023

标准号
BS EN ISO 19749:2023
发布
2023年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN ISO 19749:2023
 
 
引用标准
ISO 13322-1 ISO 16700 ISO 26824 ISO 9276-1 ISO 9276-2 ISO 9276-3 ISO 9276-5 ISO 9276-6 ISO/IEC 17025 ISO/IEC Guide 99 ISO/TS 24597:2011 ISO/TS 80004-1 ISO/TS 80004-2 ISO/TS 80004-3 ISO/TS 80004-4 ISO/TS 80004-6
1 范围 本文件规定了通过获取和评估扫描电子显微镜图像以及获得和报告准确结果来确定纳米颗粒尺寸和形状分布的方法。 注 1:本文件适用于具有较低尺寸限制的颗粒,该尺寸限制取决于所需的不确定性和 SEM 的合适性能,这将首先根据本文件中描述的要求进行证明。 注 2:本文件也适用于基于 SEM 的大于纳米级颗粒的尺寸和形状测量。

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