为此,相继出现了扫描电子显微镜——电子探针多种分析功能的组合型仪器,如常与EDS(X射线能谱仪)联用,对材料进行定性半定量分析。 (4)扫描电子显微镜分辨率可达纳米级别,可对纳米材料进行观察。 纳米材料的一切独特性能主要源于它的超微尺寸,通过使用高分辨率的SEM对纳米级材料进行形貌观察和尺寸检测,对纳米材料的研究及应用起到了基础性的作用。...
通过探针可以操纵和移动单个分子或原子,按照人们的意愿排布分子和原子,以及实现对表面进行纳米尺度的微加工,同时,在测量样品表面形貌时,可以得到表面的扫描隧道谱,用以研究表面电子结构。扫描原子力显微镜(AFM)可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。...
缺点:结果受样品的粒度大小以及分布影响较大,只适用于测量粒度分布较窄的颗粒样品;测试中应不发生明显的团聚和快速沉降现象。 4.X射线衍射线宽法(XRD) XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时,其衍射峰型发生相应的宽化,通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。...
根据材料颗粒度的不同,既可采用一般的光学显微镜,也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定防卫为0.8~150ųm,小于0.8ųm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜和透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm~5ųm范围内的颗粒,适合纳里材料的粒度大小和形貌分析。显微镜法可以了解在制备过程中颗粒的形状,绘出特定表面的粒度分布图,而不只是平均粒度的分布图。...
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