DIN EN 62047-22 E:2012-11
半导体器件-微机电器件-第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法（草案）
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
- 标准号
- DIN EN 62047-22 E:2012-11
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- /
- 替代标准
- DIN EN 62047-22:2015
- 当前最新
- DIN EN 62047-22:2015-04
DIN EN 62047-22 E:2012-11相似标准
EN 62047-22:2014 半导体器件-微机电器件-第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
NF EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
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DIN EN 62047-22:2015-04 半导体器件 - 微机电器件 - 第 22 部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法 (IEC 62047-22:2014)
NF C96-050-22*NF EN 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
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