DIN EN 62951-1 E:2015
文件草案 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法 (IEC 47/2224/CD:2015)

Draft Document - Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47/2224/CD:2015)


 

 

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标准号
DIN EN 62951-1 E:2015
发布
2015年
发布单位
SCC
替代标准
DIN EN 62951-1 E:2015-06
当前最新
DIN EN 62951-1 E:2015-06
 
 

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