BS IEC 62951-1:2017
半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices - Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
- 标准号
- BS IEC 62951-1:2017
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS IEC 62951-1:2017
- 适用范围
- BS IEC 62951 ‑ 1 - 柔性和可拉伸半导体器件是什么？ BS IEC 62951-1 是一项讨论柔性和可拉伸半导体器件的国际标准。 BS IEC 62951 ‑ 1 是多系列的第一部分，规定了弯曲测试方法，用于测量沉积或粘合在柔性非导电基材上的导电薄膜的机电性能或柔性。
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