BS ISO 23420:2021
微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
- 标准号
- BS ISO 23420:2021
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 23420:2021
- 适用范围
- ISO 23420 是什么？ ISO 23420 讨论了微束分析。 ISO 23420 规定了扫描透射电子显微镜或配备电子能量损失 (EEL) 能谱仪的透射电子显微镜能量分辨率的测定程序。注：ISO 23420 适用于柱内式 EEL 光谱仪和柱后式 EEL 光谱仪。这些EEL信号检测系统适用于并行检测系统和串行检测系统。 ISO 23420 适合谁？ ISO 23420
BS ISO 23420:2021相似标准
推荐
电子探针仪与扫描电镜有何异同
将电子束聚焦到样品上﹐不但能观察20～30A的组织形貌细节﹐并可以从X射线能谱分析及电子能量损失谱中得出这么微小区域的化学成分﹐从微区电子衍射得到它的晶体结构数据﹐这是近几年来电子显微学中发展较快的领域﹐称为分析电子显微学(analytical electron microscopy﹐简写为AEM)。 ...
中科院上海硅酸盐研究所——透射电镜分析
邮件：hlyao@mail.sic.ac.cn三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜 仪器参数： 加速电压：200kV 高分辨极靴 (S-TWIN) 点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm STEM (HAADF)分辨率：0.19nm 电子束能量色散：100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA 样品最大倾斜角：?...
日立：纳米级分析透射式电子显微镜
同时通过在电子枪上结合使用300kV的高加速电压，实现了高稳定性。作为一种分析电镜，除配置能量色散型X射线分析装置（EDX）和电子能量损失谱仪（EELS）外，还支持电子束全息摄影、位置分析型EELS及纳米电子束衍射等新分析方法。 HF-3300型新型场发射型透射式电子显微镜（FE-TEM） 透射式电子显微镜的加速电压越高，分辨率和透射力就越出色。...
三种常见电子显微镜透射电镜 、扫描电镜、反射电镜介绍
二、扫描电子显微镜 SEM扫描电镜的应用较为普遍，扫描电子显微镜原理是：通过光栅扫描技术来产生标本的放大图像。它引导聚焦的电子束穿过样品的矩形区域，当电子束通过时会产生能量损失。该能量会被转换成热、光、二次电子等能量同时反向散射电子。此时通过软件系统进行翻译转换后得到清晰的标本图像信息。从成像原理分析，扫描电子显微镜的分辨率会比透射电子显微镜的分辨率稍差。...