将电子束聚焦到样品上﹐不但能观察20~30A的组织形貌细节﹐并可以从X射线能谱分析及电子能量损失谱中得出这么微小区域的化学成分﹐从微区电子衍射得到它的晶体结构数据﹐这是近几年来电子显微学中发展较快的领域﹐称为分析电子显微学(analytical electron microscopy﹐简写为AEM)。 ...
邮件:hlyao@mail.sic.ac.cn三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜 仪器参数: 加速电压:200kV 高分辨极靴 (S-TWIN) 点分辨率:0.24nm;线分辨率:0.14nm STEM (HAADF)分辨率:0.19nm 电子束能量色散:100nA;1nm束斑最大束流:>0.5nA 样品最大倾斜角:?...
;(1微米,体相) 电镜的电子能量损失谱分析;(0.5nm) 为达此目的,成分分析按照分析手段不同又分为光谱分析、质谱分析和能谱分析。 ...
STEM分析图 入射电子束照射试样表面发生弹性散射,一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值,由此获得能量损失谱(EELS),利用EELS可以对薄试样微区元素组成、化学键及电子结构等进行分析。 ...
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