IPC JEDEC J-STD-020F-2022
IPC JEDEC J-STD-020F-2022


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:IPC JEDEC J-STD-020F-2022 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
IPC JEDEC J-STD-020F-2022

标准号
IPC JEDEC J-STD-020F-2022
发布
1970年
发布单位
/
 
 

IPC JEDEC J-STD-020F-2022相似标准


推荐

哪些产品需要检测卤素

二、卤素检测标准  2007年11月IPC提出IPC/JEDEC J-STD-709标准草案,标准中对卤素的要求与IEC 61249-2-21:2003相同,但覆盖的产品范围却广泛很多,包含但不限于以下几类:  各类塑料部件中的树脂(基材,模具,助焊剂,底部填充料等);  印刷电路板和印刷电路板组件;  焊接助焊剂残留;  电缆、连接器、插座以及外部接线中的树脂;  机械塑料中的树脂(遮罩,风扇等)...

超声波扫描显微镜应用

超声波扫描显微镜依据标准:IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B超声波扫描显微镜实验室介绍:芯片失效分析实验室能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全...

超声波扫描显微镜应用介绍

超声波扫描显微镜依据标准:IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B超声波扫描显微镜实验室介绍:芯片失效分析实验室能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作,开展从底层芯片到实际产品,从物理到逻辑全面的检测工作,提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号