CEI EN 60749-38:2010
半导体器件机械和气候测试方法第38部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

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标准号: CEI EN 60749-38:2010
发布: 2010年
发布单位: SCC
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