CEI EN 60749-38:2010
半导体器件机械和气候测试方法 第38部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory


CEI EN 60749-38:2010 发布历史

CEI EN 60749-38:2010由SCC 发布于 2010-07-01。

CEI EN 60749-38:2010 半导体器件机械和气候测试方法 第38部分：带存储器的半导体器件的软错误测试方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 CEI EN 60749-38:2010 。

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标准号
CEI EN 60749-38:2010
发布
2010年
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当前最新
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