IEC 62951-6:2019
半导体器件.柔性和可拉伸的半导体器件.第6部分:柔性导电薄膜片电阻的试验方法

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films


标准号
IEC 62951-6:2019
发布
2019年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62951-6:2019
 
 
适用范围
IEC 62951的本部分规定了弯曲和折叠测试下柔性导电薄膜的方块电阻的术语@以及测试方法和报告。测量方法包括2点探针@4点探针和蒙哥马利法@,可应用于原位和异位测量以及各向异性方块电阻的测量。

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