BS IEC 62951-4:2019
半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性半导体器件基材上柔性导电薄膜的疲劳评估
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices - Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices
- 标准号
- BS IEC 62951-4:2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS IEC 62951-4:2019
- 适用范围
- BS IEC 62951-4-柔性导电薄膜是什么？ BS IEC 62951-4 是半导体多系列标准的第四部分。 BS IEC 62951-4规定了用于柔性半导体器件的导电薄膜和柔性基板的弯曲疲劳性能的评估方法。膜包括沉积或粘合到非导电柔性基板上的任何膜，例如用于柔性半导体器件的薄金属膜、透明导电电极和薄硅膜。评估基材上薄膜的电气和机械性能。疲劳试验方法包括动态弯曲疲劳试验和静态弯曲疲劳试验。
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