NF EN 62132-8:2013
集成电路 电磁抗扰度的测量 第8部分:辐射抗扰度的测量 集成电路的板TEM线法

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré


 

 

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标准号
NF EN 62132-8:2013
发布
2013年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF EN 62132-8:2013
 
 

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