BS EN IEC 60749-10:2022
半导体器件 机械和气候测试方法 机械冲击 设备和组件
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Mechanical shock. device and subassembly
- 标准号
- BS EN IEC 60749-10:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 60749-10:2022
- 适用范围
- 范围 IEC 60749 的本部分旨在评估自由状态下的设备并组装到印刷线路板上以供电气设备使用。 该方法旨在确定设备和组件承受中等强度冲击的兼容性。 使用子组件是一种在组装到印刷线路板上的使用条件下测试设备的方法。 由于突然施加的力或搬运、运输或现场操作产生的运动突然变化而产生的机械冲击可能会扰乱操作特性，特别是在冲击脉冲重复的情况下。 这是用于设备鉴定的破坏性测试。
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