IEC 60749-10:2022
半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击.器件和组件
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly
- 标准号
- IEC 60749-10:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-10:2022
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