测量范围宽广测试仪可直接测量: a、研磨或切割面:电阻率≥0.5Ω?cm的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命,切割片的少子相对寿命。 b、抛光面:电阻率在0.5~0.01Ω?cm范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。...
当第五个样片校准完成后屏幕提示“校准已完成”,然后仪器进入测量界面。仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。注意:这五个样片可以使用仪器提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行,相邻样片间需要有一定的差值。系统校准时所选用的基体必须是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。...
当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000'',进入开机界面如图A,仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。注意:这五个样片可以使用提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行,相邻样片间应该有一定的差值。如果操作不当造成系统校准紊乱时,可以通过系统初始化设置进行重新校准。...
当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000'',进入开机界面如图A,仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。注意:这五个样片可以使用提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行,相邻样片间应该有一定的差值。...
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