IEC 60749-23-2004+AMD1-2011 CSV
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

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标准号

IEC 60749-23-2004+AMD1-2011 CSV

发布日期

2011年03月30日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

国际电工委员会

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