IEC 62951-3:2018
半导体器件 - 柔性和可拉伸半导体器件 - 第3部分:凸出下柔性基板上薄膜晶体管特性的评估

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging


标准号
IEC 62951-3:2018
发布
2018年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 62951-3:2018
 
 
适用范围
IEC 62951的本部分规定了在膨胀情况下评估柔性基板上薄膜晶体管特性的方法。薄膜晶体管是在柔性基板上制造的,包括聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)@聚酰亚胺(PI)@弹性体等。通过使用设备向柔性基板施加均匀分布的压力来施加应力。

IEC 62951-3:2018相似标准


推荐





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号