KS C 2150-2008(2018)
高频（500mhz∼10ghz）介质薄膜介电常数和介电损耗的测量方法

Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHz∼10 GHz)

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2023-01

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标准号: KS C 2150-2008(2018)
发布: 2008年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C 2150-2023
当前最新: KS C 2150-2023

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