KS C 2150-2008
在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法

Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHz∼10 GHz)

被代替

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标准号: KS C 2150-2008
发布: 2008年
发布单位: 韩国科技标准局
替代标准: KS C 2150-2008(2018)
当前最新: KS C 2150-2023

适用范围: 이 표준은 고주파 대역(500 MHz∼10 GHz)에서 유전체 박막의 유전율 및 유전손실의

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