ASTM D5796-10
使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

ASTM D5796-10 发布历史

ASTM D5796-10由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2010-12-01。

ASTM D5796-10在国际标准分类中归属于: 17.040.20 表面特征。

ASTM D5796-10的历代版本如下：

• 2003年05月10日 ASTM D5796-03 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2010年06月01日 ASTM D5796-03(2010) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2010年12月01日 ASTM D5796-10 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2015年06月01日 ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 1999年 ASTM D5796-1999 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2020年07月01日 ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2003年 ASTM D5796-2003 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2003年 ASTM D5796-2003(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2010年 ASTM D5796-2010 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2010年 ASTM D5796-2010(2015)
• 1999年12月10日 ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

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标准号

ASTM D5796-10

发布日期

2010年12月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

17.040.20

发布单位

US-ASTM