ASTM D5796-10(2015)
使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

被代替

标准号

ASTM D5796-10(2015)

发布

2010年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM D5796-20

当前最新

ASTM D5796-20

 

 

引用标准

ASTM D3794

适用范围

1.1 此测试该方法涵盖通过对钻入涂膜的精密切割的浅角度凹坑进行显微观察来测量涂膜的干膜厚度（DFT）。该凹坑显示出呈环状的横截面层，其宽度与涂层的深度成正比，并允许直接计算干膜厚度。
1.1.1 设备、程序、精度和偏差的讨论包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光学测量设备，该设备已不再市售，但仍然是干膜测量的有效方法。方法 B 是取代方法 A 的软件驱动测量程序。 1.2 基材可以是任何刚性金属材料，例如冷轧钢、热浸镀锌钢、铝等。基材必须是平面的除了展示“线圈组”的基板外，可以通过使用钻孔设备上的夹紧工具将其保持水平。注 1：基材表面轮廓的变化可能会导致有机涂层厚度读数不准确。这种情况可能存在于热浸镀钢板等基材上。所有“精密切割”都是如此。用于测定有机涂层干膜厚度的方法。这就是为什么如果基材表面轮廓可疑，则在条带上进行多次测量可能会很有用。 1.3 厚度测量范围为0至3.5密耳（0至89μm）。注 2：对于大于 3.5 mils (89μm) 但小于 63 mils (1600 μm) 的薄膜的 DFT 测量，45°钻孔器可以按照本测试方法使用，但 6.8 除外，其中千分尺读数将提供直接读数，并且根据 4.3.1 方法 A 1.4 中的方法 A 除以 10 是不必要的。
1.4 测量可以可以在卷材涂层片材、某些成型产品或测试板上制成。 1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准。括号中给出的值仅供参考。 1.6 这个站……

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