18/30319114 DC
BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式

BS ISO 20171. Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Tagged image file format for Scanning electron microscopy(TIFF/SEM)


18/30319114 DC 中,可能用到以下仪器设备

 

大面积电制冷能谱仪

大面积电制冷能谱仪

牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

大气压扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

聚焦离子束系统

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

Quanta SEM

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

软X射线分光谱仪

软X射线分光谱仪

日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

是德Keysight 7500 ILM 扫描探针显微镜

是德Keysight 7500 ILM 扫描探针显微镜

是德科技(中国)有限公司KEYSIGHT

 

5600LS 扫描探针显微镜

5600LS 扫描探针显微镜

是德科技(中国)有限公司KEYSIGHT

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

聚焦离子束系统

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

CellHesion200单细胞力谱仪显微镜

CellHesion200单细胞力谱仪显微镜

DT/仪思奇(北京)科技发展有限公司

 

SPM-9700HT用纳米物理检测软件

SPM-9700HT用纳米物理检测软件

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

岛津高分辨率扫描探针显微镜 SPM-8000FM型

岛津高分辨率扫描探针显微镜 SPM-8000FM型

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

SPM-9700扫描探针显微镜

SPM-9700扫描探针显微镜

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

可控气氛扫描探针显微镜WET-SPM系列

可控气氛扫描探针显微镜WET-SPM系列

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

扫描探针显微镜SPM-9700HT

扫描探针显微镜SPM-9700HT

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

SPM-8100FM高分辨率原子力显微镜

SPM-8100FM高分辨率原子力显微镜

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

Anton Paar原子力显微镜

Anton Paar原子力显微镜

安东帕(上海)商贸有限公司

 

Apollo 300 扫描电镜

Apollo 300 扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

MFP-3D Infinity原子力显微镜

MFP-3D Infinity原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

Cypher ES环境控制原子力显微镜

Cypher ES环境控制原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D Origin原子力显微镜

MFP-3D Origin原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

牛津Cypher ES 高分子版原子力显微镜

牛津Cypher ES 高分子版原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

Cypher S原子力显微镜

Cypher S原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D-BIO™原子力显微镜

MFP-3D-BIO™原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

MFP-3D Origin+ 原子力显微镜

MFP-3D Origin+ 原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

Andor科研级相机

Andor科研级相机

牛津仪器(上海)有限公司

 

Cypher VRS全功能视频级成像原子力显微镜

Cypher VRS全功能视频级成像原子力显微镜

牛津仪器(上海)有限公司

 

极高性能电化学原子力显微镜(EC-AFM)

极高性能电化学原子力显微镜(EC-AFM)

牛津仪器(上海)有限公司

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

标准号
18/30319114 DC
发布
2018年
发布单位
英国标准学会
当前最新
18/30319114 DC
 
 

18/30319114 DC相似标准


推荐

扫描电镜技术及其在碳材料表征中应用

SEM 中有三个扫描圈:物镜极靴内扫描线圈是用于电子探针在样品表面扫描;观察和照相用显象管中扫描线圈是用于控制阴极摄像管(CRT)中电子以便在荧光平上作同步扫描SEM进行形貌分析时都采用光栅扫描方式。SEM 倍率放大是通过改变镜筒中扫描电圈电流大小来控制,这样就可以改变样品扫描区域大小,进而改变倍数。...

四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工作原理(动图秒懂)

实例图片:2、透射电子显微镜(TEM)TEM是聚焦电子投射到非常薄样品上,透过样品透射电子或衍射电子所形成图像分析样品内部微观组织结构。TEM常用于研究纳米材料结晶情况,观察纳米粒子形貌、分散情况及测量和评估纳米粒子粒径。实例图片:3、扫描隧道显微镜(STM)STM是一种利用量子理论中隧道效应探测物质表面结构仪器。...

46个扫描电镜常见问题,答案在这里!

需要真空原因包括:一是电子系统中灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以需要抽真空。二是为了增大电子平均自由程,从而使得用于成象电子更多。 基本原理 扫描电子显微镜是利用材料表面特征(如形貌、原子序数、化学成分、或晶体结构等)差异,在电子作用下通过试样不同区域产生不同亮度差异,从而获得具有一定衬度图像。...

扫描电子显微镜SEM)结合能量色散X射线光谱法(EDS/EDX)

SEM-EDS / EDX 可作点测量,也可在成像模式下做分析。做背散射电子成像或X射线显微分析时,需对样品做树脂包埋和拋光(断面样品)。PART.3应 用SEM EDS 既可用于有机材料研究,也可用于无机材料研究。这项技术可对艺术品样品进行成像和分析,在某些情况下,可以根据物体大小和材料来进行研究。扫描电镜景深很大,研究粗糙样品时,可同时令整个表面保持聚焦。...


18/30319114 DC 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号