1.兼具 JESD51-1定义的静态测试法(Static Mode)与动态测试法(Dynamic Mode), 能够实时采集器件瞬态温度响应曲线 (包括升温曲线与降温曲线),其采样率高达 1 微秒,测试延迟时间高达 1 微秒,结温分辨率高达 0.01℃。 2.既能测试稳态热阻,也能测试瞬态热阻抗。 3.满足JEDEC最新的结壳热阻(θjc)测试标准(JESD51-14)。 ...
(JESD51-1,JESD51-14,JESD51-50,JESD51-51,JESD51-52),MIL-STD-750E,IEC60747; 15.瞬态热测试方法:提供两种测试方法:静态测试法(持续加热,热平衡后,冷却中连续测试);动态测试法(脉冲加热,单点测试); 16.电压信号采样速率:1us/次; 17.温度采样精度:0.0006℃(电压分辨率12uV模式下); 18.瞬态热测试完成后...
热性能测定仪是全球唯一基于JEDEC “静态测试方法”(JESD51-1),实时采集器件瞬态温度响应曲线的仪器,其测试延迟时间(tMD)和分辨率均高达1um。热性能测定仪,是MicReD研发制造的用于半导体器件的先进热测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等器件的热特性。...
对于HBM/MM/TLP/CDM等测试应用极为熟悉与精通,曾入选JEDEC/JESD 14.1标准协会工作组成员,目前担任ESDA HBM/JEDEC joint标准协会工作组成员。他是一位在ESD测试领域真正的技术先锋与应用专家。Tom Meuse资深的ESD应用工程师,技术专家。...
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