VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018
尺寸测量中的计算机断层扫描 对测量结果的影响变量以及计算机断层扫描尺寸测量的建议

Computertomografie in der dimensionellen Messtechnik - Einflussgroessen auf das Messergebnis und Empfehlungen fuer dimensionelle Computertomografie-Messungen

标准号

VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018

发布

2018年

发布单位

VDI - Verein Deutscher Ingenieure

当前最新

VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018

 

 

适用范围

该指南描述了工业计算机断层扫描（CT）尺寸测量测量结果的典型影响因素。为此，对各种尺寸测量任务进行了分类，可以使用工业 CT 进行处理。由于 CT 设备的设计及其应用多种多样，因此无法保证影响因素是完整的。因此，本指南的范围仅延伸至下述 CT 设备@。附录中给出了 CT 尺寸测量质量保证的建议。本指南考虑轴向 CT 系统。使用这些 CT 设备，被检查的工件基本上绕固定轴旋转。旋转垂直于辐射方向进行。然而，大多数陈述也适用于断层摄影装置和基于龙门的 CT 系统。考虑使用X射线管和直线加速器作为X射线源的工业CT设备。该指南描述了典型工业CT设备@的结构，规定的影响因素对其有效。所述影响因素适用于扇形束 CT (2-D CT) 和锥形束 CT (3-D CT)。差异将根据具体情况予以解决。除此处考虑的方法外，还有其他基于其他测量原理@的 CT 方法@；这些特别是分层摄影@中子 CT 和基于同步加速器的 CT。本指南中描述的某些影响因素本质上也适用于这些 CT 程序。 CT 系统的基础知识和定义以及各个组件的描述和功能可在 VDI/VDE 2630 表 1.1 中找到。本指南中考虑的 CT 设备至少包含以下组件（另请参见 VDI/VDE 2630 表 1.1 中的图像）： ? X射线源（这里是X射线管或直线加速器）？用于旋转待照射部件的旋转轴 @ 是否需要用于将部件夹紧在旋转轴上的支架？ X射线探测器？用于记录投影的控制单元（计算机+控制软件）？用于生成体积数据的重建单元（计算机+重建软件）？辐射屏蔽（通常是带有符合 X 射线法规 ?CR?V 的屏蔽的舱室） ?评估单元（计算机+评估和可视化软件） 应用示例：分析@体积数据的可视化和测量@从体积数据生成表面数据@可视化和尺寸测量。

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