VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010
尺寸测量中的计算机断层扫描 影响测量结果的变量和计算机断层扫描尺寸测量的建议
Computed tomography in dimensional measurement - Influencing variables on measurement results and recommendations for computed tomography dimensional measurements
2016-12
- 标准号
- VDI/VDE 2630 Blatt 1.2-2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 德国机械工程师协会
- 替代标准
- VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2016
- 当前最新
- VDI/VDE 2630 BLATT 1.2-2018
- 适用范围
- 该指南描述了对工业计算机断层扫描 (CT) 尺寸测量结果的典型影响。此外，不同的尺寸测量任务被分类，这可以使用工业CT来实现。指南附件中给出了有关 CT 尺寸测量质量保证的建议。仅考虑被检查工件绕空间固定轴旋转的轴向 CT 系统。旋转与射线照相方向正交。带有 X 射线管和线加速器的工业 CT 设备被视为 X 射线源。此外还描述了典型工业 CT 设备的结构，所指示的测量变量对于该设备是有效的。因此，影响的描述性因素对于扇形束 CT 和锥束 CT 均有效。
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