GB/T 5594.5-1985
GB_T 5594.5-1985

哪些标准引用了GB/T 5594.5-1985

 

GB/T 5593-2015电子元器件结构陶瓷材料GB/T 14620-2013薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片GB/T 14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片SJ 20965-2006光电器件用氧化铍陶瓷载体规范GJB 3522A-2011氧化铍陶瓷规范SJ/T 11369-2007电子玻璃技术数据SJ/T 11246-2014真空开关管用陶瓷管壳

GB/T 5594.5-1985

标准号
GB/T 5594.5-1985
发布日期
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
/
国际标准分类号
/
发布单位
/

GB/T 5594.5-1985系列标准

GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法 GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法 GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

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GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料 GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 SJ 20965-2006 光电器件用氧化铍陶瓷载体规范 GJB 3522A-2011 氧化铍陶瓷规范 SJ/T 11369-2007 电子玻璃技术数据 SJ/T 11246-2014 真空开关管用陶瓷管壳


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