ASTM F1192-00(2006)
标准指南 用于测量由半导体器件的重离子辐照引起的单一事件现象（SEP）

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

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标准号

ASTM F1192-00(2006)

发布日期

2006年07月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

US-ASTM