IEEE Std 1149.1-1990
IEEE 标准测试访问端口和边界扫描架构

IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture


 

 

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标准号
IEEE Std 1149.1-1990
发布
1990年
发布单位
美国电气电子工程师学会
替代标准
IEEE 1149.1-1993
当前最新
IEEE Std 1149.1-2013
 
 
适用范围
定义了可内置于集成电路中以协助测试、维护和支持组装印刷电路板的电路。该电路包括标准接口，通过该接口传送指令和测试数据。定义了一组测试功能，包括边界扫描寄存器，以便组件能够响应最少的指令集......

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