60749-5-2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Edition 2.0)

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标准号

60749-5-2017

发布日期

2017年04月01日

实施日期

2017年04月12日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

引用标准

14

适用范围

This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. This test method is considered destructive.