找不到引用CEI EN 60749-44:2017 的标准
368.6研究单纳米粒子催化反应的化学发光与光热多功能成像系统崔华中国科学技术大学671.7有机小分子半导体生长及光电性能原位实时测量表征之集成系统迟力峰苏州大学562定重FRET显微成像仪的研制陈同生华南师范大学442.1高效高速逆流色谱仪的研制与应用陈俐娟四川大学650.98大气颗粒物关键化学组分与生物毒性在线分析联用系统研制陈建民复旦大学643基于高通望研究堆的原位中子极化系统研制陈东风中国原子能科学研究院...
继重离子、α粒子和质子之后,高能中子单粒子效应的潜在危害日益增加,高能中子单粒子效应的分析、测试在航空电子、国防等方面都有重要应用。...
1.2 GaN 毫米波芯片GaN 作为第3 代宽禁带化合物半导体, 具有大的禁带宽度、高的电子迁移率和击穿场强等优点,器件功率密度是GaAs 功率密度的5 倍以上, 可显著地提升输出功率, 减小体积和成本....
11、电子专用设备、仪器和工模具 8-12 英吋集成电路生产设备、封装测试设备,无线射频(RFID)封装设备,化合物半导体生产设备,碳化硅单晶材料生长设备,片式元件生产设备,半导体照明设备、光伏太阳能设备、新型显示专用设备、敏感元器件/传感器件生产设备,高频率器件生产设备,电力电子器件生产设备,超净设备,环境试验设备,高精度电子专用模具,终测仪、路测仪等电子专用测试仪器。 ...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号