CEI EN 60749-44:2017
半导体器件机械和气候测试方法第44部分：半导体器件中子束辐照单粒子效应（SEE）测试方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

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标准号: CEI EN 60749-44:2017
发布: 2017年
发布单位: SCC
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