KS C IEC 60759-2009(2019)
半导体X射线能谱仪的标准测试程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers


KS C IEC 60759-2009(2019) 中,可能用到以下仪器

 

RIIDEye便携式能谱分析仪

RIIDEye便携式能谱分析仪

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

X-Max TEMEDS牛津仪器 应用于电子/半导体

X-Max TEMEDS牛津仪器 应用于电子/半导体

牛津仪器科技(上海)有限公司

 

X-Max TEMEDS牛津仪器 应用于电子/半导体

X-Max TEMEDS牛津仪器 应用于电子/半导体

牛津仪器科技(上海)有限公司

 

牛津仪器X-MaxNEDS 应用于电子/半导体

牛津仪器X-MaxNEDS 应用于电子/半导体

牛津仪器科技(上海)有限公司

 

X-act 电制冷探头

X-act 电制冷探头

HORIBA科学仪器事业部

 

台式X射线吸收精细结构谱仪

台式X射线吸收精细结构谱仪

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

能谱仪

能谱仪

上海纳腾仪器有限公司

 

牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器

牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器

牛津仪器科技(上海)有限公司

 

牛津仪器Xplore能谱探测器

牛津仪器Xplore能谱探测器

牛津仪器科技(上海)有限公司

 

平插式能谱仪

平插式能谱仪

布鲁克(北京)科技有限公司-纳米分析仪器

 

标准号
KS C IEC 60759-2009(2019)
发布
2009年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS C IEC 60759-2009(2019)
 
 

KS C IEC 60759-2009(2019)相似标准


推荐

成分分析四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX

能量色散X射线(EDS)结构与工作原理:不同元素发射出来特征X射线能量是不相同,利用特征X射线能量不同而进行元素分析称为能量色散法。所用称为能量色散X射线(EDS),简称。  X射线主要构成单元是Si(Li)半导体检测器,即锂漂移硅半导体检测器和多道脉冲分析器。...

X荧光光谱XRF性能特点和技术优势

是用X射线直接照射样品发射X荧光,分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素特征X-射线波长和强度,从而测定各种元素含量;而光谱是通过滤光片得到背景相对较低X射线,照射样品发射X荧光,X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量强度高低来测定各元素量;根据各元素特征能量强度高低来测定各元素量,这就大大提高了仪器信噪比,提高了分析轻元素能力...

成分分析四大家—XRF、ICP、EDS、WDS,来看看你需要哪一个?

安捷伦 电感耦合等离子体质 7850 ICP-MS  EDS 能量色散X射线简称,常用作扫描电镜或透射电镜微区成分分析。利用发射出来特征X射线能量不同而进行元素分析,称为能量色散法。X射线主要构成单元是Si(Li)半导体检测器,即锂飘移硅半导体检测器和多道脉冲分析器。目前还不能用于分析超轻元素(O、N、C等)。...

赛默飞多功能数字化X射线光电子讲座进行中。。。

  X射线光电子(XPS)为当前最重要表面分析技术。该技术基于光电效应,采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内原子发射光电子,通过系统探测到所发射光电子动能等信息,进而实现样品表面的元素种类及化合态定性和定量分析。XPS广泛应用于催化、化工、半导体、微电子、薄膜、太阳、高分子聚合物、陶瓷、钢铁、金属、生物材料、纳米技术等等领域。   ...


KS C IEC 60759-2009(2019) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号