EIA-364-25E-2017
TP-25E 电连接器探头损坏测试程序

TP-25E Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors

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标准号

EIA-364-25E-2017

发布

2017年

发布单位

ECIA - Electronic Components Industry Association

 

 

本标准规定了探头损坏测试应遵循的测试方法；主要用于电连接器中的圆形插座触点，也可能适用于其他类型的触点。该测试是通过将探针插入插座触点来模拟测试期间触点的现场滥用形式。该测试的目的如下： - 模拟安装在连接器中的不可拆卸触点和安装在连接器外壳外部的可拆卸触点时对插座触点的探测； - 验证插座触点的性能特征没有受到参考文件中规定的不利影响（即接合力和分离力）。...

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