IEEE Std 1687-2014
半导体设备中嵌入仪器的访问和控制 IEEE 标准
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
IEEE Std 1687-2014 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- IEEE Std 1687-2014
- 发布
- 2014年
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 当前最新
- IEEE Std 1687-2014
- 本标准描述了一种通过 IEEE 1149.1(TM) 测试访问端口 (TAP) 和/或其他信号访问嵌入在半导体器件中的仪器的方法，无需定义仪器或其功能本身。该方法的要素包括将仪器连接到芯片引脚的片上网络的硬件架构、硬件描述……
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