BS IEC 62528:2007(2010)
基于嵌入式内核的集成电路的标准可测试性方法

Standard Testability Method for Embedded Core - based Integrated Circuits


标准号
BS IEC 62528:2007(2010)
发布
1970年
发布单位
/
当前最新
BS IEC 62528:2007(2010)
 
 

BS IEC 62528:2007(2010)相似标准


推荐

2015年嵌入式产业发展看点

嵌入式系统多样和复杂让多核应用变得更加困难,多核软件开发工具和OS研究,远远落后于硬件技术发展,软件开发难度太大让嵌入式多核应用发展变得非常缓慢,这也是2015年嵌入式技术发展面临一个挑战。 总结嵌入式技术是物联网产业、工业4.0和智能化发展重要基础,嵌入式技术也在互联和智能大潮中演进和发展,嵌入式技术已经渗透到集成电路、通信、软件和云计算等技术领域。...

2015年嵌入式产业发展看点总结

创始人RichardBarry同时还参加基于FreeRTOS技术、面向安全和关键应用软件-SafeRTOS开发。  FreeRTOS是一个紧凑实时内核,具备RTOS基本功能,占用存储器也比较少。(但没有内存分配功能),内核调试可以借助第三方-Percepio嵌入式OS跟踪工具Tracealyzer。...

高低温交变试验箱两种控制器嵌入式系统(Linux与WinCE)..

到目前为止,它可以支持20到30种CPU,采用Linux环境开发产品,几乎不会遇到更换平台困扰。4、Linux在内核结构设计中考虑适应系统裁减要求,Windows CE在内核结构设计中并末考虑适应系统高度裁减要求。...

中国第一颗55纳米智能卡芯片问世

目前,该技术平台已通过产品可靠测试,能够满足标准智能卡应用需求。基于此平台,华大电子成功地将中国第一款基于55纳米先进工艺智能卡芯片推向市场。   “华大电子始终致力于对新技术和新应用探索,包括基于55纳米工艺模拟电路设计技术和系统设计技术,以及12英寸晶圆测试和减划技术等,并将研究成果应用于产品开发,快速实现新产品上市。”...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号