60444-2-1980 Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en PI Partie 2: Methode de decalage de phase pour la mesure de la capacite dynamique des quartz (Edition 1.0)
Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a PI-Network Part 2: Phase Offset Method for Measurement of Motional Capacitance of Quartz Crystal Units (Edition 1.0)
Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en PI Partie 2: Methode de decalage de phase pour la mesure de la capacite dynamique des quartz (Edition 1.0) 是非强制性国家标准,您可以免费下载前三页