YS/T 1160-2016
工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
Quantitative phase analysis of industrial silicon powder Determination of silica content X-ray diffraction K value method
YST1160-2016, YS1160-2016
YS/T 1160-2016 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- YS/T 1160-2016
- 别名
- YST1160-2016
YS1160-2016 - 发布
- 2016年
- 发布单位
- 工业和信息化部
- 当前最新
- YS/T 1160-2016
YS/T 1160-2016相似标准
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