YS/T 1160-2016
工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

Quantitative phase analysis of industrial silicon powder Determination of silica content X-ray diffraction K value method

YST1160-2016, YS1160-2016

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YS/T 1160-2016 发布历史

YS/T 1160-2016由工业和信息化部发布于 2016-07-11，并于 2017-01-01 实施。

YS/T 1160-2016 在中国标准分类中归属于: H12 轻金属及其合金分析方法，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

YS/T 1160-2016的历代版本如下：

2016年 YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号: YS/T 1160-2016
别名: YST1160-2016
YS1160-2016
发布: 2016年
发布单位: 工业和信息化部
当前最新: YS/T 1160-2016

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